首页> 中国专利> 半导体存储器单元多写避免编码装置、系统和方法

半导体存储器单元多写避免编码装置、系统和方法

摘要

本发明涉及半导体存储器单元多写避免编码装置、系统和方法,公开要被写入到存储器位置(205)的数据字(215)以多写避免(“MWA”)码字进行增量编码。MWA码字导致不将包含逻辑“0”的单个位存储单元重写为“0”状态,并且不将逻辑“1”重写到已经被写入一次逻辑“1”的单元。由差字DELTA_D(228A、228B)编索引存储在查找表(“LUT”)(235)中的潜在的MWA码字(236)。DELTA_D(228A、228B)表示当前存储在存储器位置(205)处的数据字(212)和要被存储在存储器位置(205)处的新的数据字(“NEW_D”)(215)之间的逐位差(“增量”)。如果MWA码字没有违反多写避免的原理,则验证和选择逻辑(245)选择表示要被写入的NEW_D(215)的MWA码字。一些实施例使用模式生成器而不是从LUT(235)中索引MWA码字来生成MWA码字。

著录项

  • 公开/公告号CN106448732B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-09-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 德克萨斯仪器股份有限公司;

    申请/专利号CN201610656244.4

  • 申请日2016-08-11

  • 分类号G11C16/10(20060101);

  • 代理机构11245 北京纪凯知识产权代理有限公司;

  • 代理人徐东升;赵蓉民

  • 地址 美国德克萨斯州

  • 入库时间 2022-08-23 12:26:59

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号