SoC芯片核数检测方法、装置、系统及存储介质

摘要

本发明提供一种SoC芯片核数检测方法、装置、系统及存储介质，上述SoC芯片核数检测方法包括步骤：获取SoC芯片上各预设扫描点的频谱信息。根据各预设扫描点的频谱信息和各预设扫描点的位置信息生成电磁辐射图像。识别电磁辐射图像中的处理核心，得到核数检测数据。上述SoC芯片核数检测方法不再需要进行SoC芯片端检测程序的开发，提高了检测效率，缩短了检测周期。而且，对于不同框架的SoC芯片具有通用性，也可以降低检测成本。