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公开/公告号CN111289775B
专利类型发明专利
公开/公告日2021-08-31
原文格式PDF
申请/专利权人 北京航空航天大学;
申请/专利号CN202010169099.3
发明设计人 李万国;杜畅;
申请日2020-03-12
分类号G01Q30/02(20100101);
代理机构
代理人
地址 100191 北京市海淀区学院路37号
入库时间 2022-08-23 12:23:43
机译: 确定原子力扫描电子显微镜成像至少一种类型的临界尺寸的适用阈值的确定方法
机译: 一种用于无损检测接头的方法,例如电阻点焊化合物和材料缺陷(例如部件中的裂纹),通过感应-热成像法以及用于实施该方法的装置进行
机译:一种确定在Formvar薄膜上收集并通过扫描电子显微镜成像的空气中亚微米颗粒的尺寸的方法
机译:一种确定在Formvar膜上收集并通过扫描电子显微镜成像的空气中亚微米颗粒的尺寸的方法
机译:电子扫描衬里成像和电子背散射衍射成像及扫描电子显微镜结构缺陷分析的进展
机译:一种用于无损检测玉米核缺陷的激光光学系统(图像处理,声学,分光光度法,扫描电子显微镜,质量评估)。
机译:扫描声显微镜(SAM):一种用于医学成像的超声探头制造过程中缺陷检测的可靠方法
机译:一种在Formvar薄膜上收集的空气中确定亚微米颗粒尺寸的方法,并通过扫描电子显微镜成像
机译:在高分辨率sEm(扫描电子显微镜)中直接缺陷成像。