首页> 中国专利> 一种无掩膜光刻技术中的镜头畸变矫正方法

一种无掩膜光刻技术中的镜头畸变矫正方法

摘要

一种无掩膜光刻技术中的镜头畸变矫正方法,包括以下步骤:1、根据DMD微镜面积的大小,计算在微镜中图像上每个像素点与图像中心点的实际距离;2、通过镜头与DMD微镜之间的距离和像素点与中心点的距离计算像素点与光轴的角度;3、根据镜头出厂时的畸变参数计算每个像素点的畸变量;4、利用计算得到的畸变量修正原始图像,得到预畸变图像。本发明可以大幅度矫正因光学系统导致的图像畸变,避免由于光学镜头生产中本身误差因素而带来的缺陷,更加精确的实现PCB线路曝光。

著录项

  • 公开/公告号CN108305231B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-08-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西安电子科技大学;

    申请/专利号CN201810132488.1

  • 发明设计人 杨刚;吴晨枫;郑春红;石峰;

    申请日2018-02-09

  • 分类号G06T5/00(20060101);G06T3/40(20060101);

  • 代理机构61202 西安西达专利代理有限责任公司;

  • 代理人刘华

  • 地址 710071 陕西省西安市太白南路2号

  • 入库时间 2022-08-23 12:23:14

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号