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一种无掩膜光刻技术中的镜头畸变矫正方法

摘要

一种无掩膜光刻技术中的镜头畸变矫正方法,包括以下步骤:1、根据DMD微镜面积的大小,计算在微镜中图像上每个像素点与图像中心点的实际距离;2、通过镜头与DMD微镜之间的距离和像素点与中心点的距离计算像素点与光轴的角度;3、根据镜头出厂时的畸变参数计算每个像素点的畸变量;4、利用计算得到的畸变量修正原始图像,得到预畸变图像。本发明可以大幅度矫正因光学系统导致的图像畸变,避免由于光学镜头生产中本身误差因素而带来的缺陷,更加精确的实现PCB线路曝光。

著录项

  • 公开/公告号CN108305231A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-07-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西安电子科技大学;

    申请/专利号CN201810132488.1

  • 发明设计人 杨刚;吴晨枫;郑春红;石峰;

    申请日2018-02-09

  • 分类号G06T5/00(20060101);G06T3/40(20060101);

  • 代理机构61202 西安西达专利代理有限责任公司;

  • 代理人刘华

  • 地址 710071 陕西省西安市太白南路2号

  • 入库时间 2023-06-19 05:55:12

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-08-14

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06T5/00 申请日:20180209

    实质审查的生效

  • 2018-07-20

    公开

    公开

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