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一种用于离散相非导电颗粒的非接触电磁检测方法

摘要

本发明公开了一种用于离散相非导电颗粒的非接触电磁检测方法,属于电磁测量领域,具体为:首先、利用多匝微小线圈对施加交变磁场激励,采集感应电压信号;利用锁相环原理,对感应电压信号与参考信号进行混频低通滤波处理,解调出相位然后,判断无非导电颗粒通过时感应电压信号对应的相位是否等于相位如果是,离散相正常,对下一时刻的感应电压信号重复执行;否则,说明离散相有非导电颗粒通过;通过不间断测量,得到各个时刻对应的相位,最后,根据选取阈值τ,逐一对每个相位值进行比较,从而通过统计相位异常的次数得到离散相非导电颗粒的计数。本发明实现了对流动离散相非导电颗粒高效实时检测。

著录项

  • 公开/公告号CN112683754B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-08-24

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京航空航天大学;

    申请/专利号CN202011527489.X

  • 申请日2020-12-22

  • 分类号G01N15/10(20060101);

  • 代理机构11121 北京永创新实专利事务所;

  • 代理人易卜

  • 地址 100191 北京市海淀区学院路37号

  • 入库时间 2022-08-23 12:21:01

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