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半封闭腔体内部缺陷检测装置

摘要

本发明公开一种半封闭结构腔体内部缺陷检测装置,所述半封闭结构腔体的开口为透光孔,所述透光孔的面积小于半封闭结构腔体的横截面面积;所述半封闭结构腔体内部缺陷检测装置包括光源、相机和处理模块;所述光源射出的光穿过所述透光孔进入半封闭结构腔体后,通过镜面反射的光均不能从透光孔射出,部分通过漫反射的光能从透光孔射出进入相机成像;所述处理模块与相机之间电连接,相机将成像结果传输到处理模块,所述处理模块依据成像结果判断待测区域是否存在缺陷,并输出结果,本装置所述光源、相机的设置能够测量半封闭腔体内部面积(待测区域)远大于通光孔的区域,且不会出现局部过曝的情况。

著录项

  • 公开/公告号CN110044849B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-08-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 易思维(杭州)科技有限公司;

    申请/专利号CN201910437383.1

  • 发明设计人 姜毅;

    申请日2019-05-24

  • 分类号G01N21/47(20060101);G01N21/01(20060101);G01N21/88(20060101);G01N21/95(20060101);

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 310051 浙江省杭州市滨江区滨安路1197号3幢495室

  • 入库时间 2022-08-23 12:19:27

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