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一种平面波导阵列光栅解复用器的测试制具及其测试方法

摘要

本发明涉及一种平面波导阵列光栅解复用器的测试制具及其测试方法,其治具包括底座、竖直挡板、三维调节架、吸附组件和负压组件,竖直挡板设置在底座上,竖直挡板的上端设有定位治具,三维调节架滑动设置在底座上并位于竖直挡板的一侧,且当三维调节架滑动至与竖直挡板接触时,吸附组件将二者连接固定,竖直挡板上表面设有真空吸附治具,真空吸附治具的上表面设有条形槽,且条形槽内的一端底壁与负压组件连通。本发明通过吸附组件配合负压组件将待测平面博导阵列光栅解复用器固定于三维调节架上,并通过三维调节架来回移动,方便放入和取出,不容易在定位时发生破损,不会在测试结束后取出时发生碰撞导致破损,大大提高了测试效率,保证产品质量。

著录项

  • 公开/公告号CN110779619B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-08-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 武汉驿路通科技股份有限公司;

    申请/专利号CN201911084679.6

  • 发明设计人 余创;黄望隆;

    申请日2019-11-08

  • 分类号G01J1/00(20060101);G01M11/02(20060101);G01M11/00(20060101);

  • 代理机构42251 武汉谦源知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人尹伟

  • 地址 430200 湖北省武汉市东湖新技术开发区佛祖岭一路7号驿路通科技园

  • 入库时间 2022-08-23 12:14:32

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