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一种基于微反射镜阵列的MEMS微振镜监测装置及方法

摘要

本发明提供一种基于微反射镜阵列的MEMS微振镜监测装置及方法,装置包括:光源用于发射光信号;MEMS微振镜用于将光信号向被测空间的被测物投射,被测物反射的第一光信号反馈至光束传感器;MEMS微振镜上设置具有不同空间法向角的反射面的微反射镜阵列,用于将光信号反射的第二光信号反馈至光束传感器;光束传感器用于接收第一光信号和第二光信号;处理器用于提取光束传感器接收的第一光信号计算第一深度信息;提取光束传感器接收的第二光信号计算第二深度信息并根据所述第二深度信息对第一深度信息进行标定;根据第二光信号出现的时序和规律,监测所述MEMS微振镜的位置和工作状态。提高了MEMS微振镜的安全性及信号的完整性。

著录项

  • 公开/公告号CN111323205B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-08-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 奥比中光科技集团股份有限公司;

    申请/专利号CN202010106721.6

  • 申请日2020-02-21

  • 分类号G01M11/00(20060101);G01M11/02(20060101);G02B26/08(20060101);

  • 代理机构44223 深圳新创友知识产权代理有限公司;

  • 代理人孟学英

  • 地址 518000 广东省深圳市南山区粤海街道学府路63号高新区联合总部大厦11-13楼

  • 入库时间 2022-08-23 12:14:22

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