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一种各阶磁梯度张量仪的统一校正方法

摘要

本发明涉及一种各阶磁梯度张量仪的统一校正方法,包括建立各阶磁梯度张量仪的统一校正框架,获取各阶磁梯度张量旋转校正数据,将张量不变量作为约束准则,采用LM算法求解最优的校正参数,对测线上的数据进行校正,鲁棒性研究证明校正方法的准确性;该方法以磁梯度张量整体为核心,使用9个校正参数对其进行1‑模式积运算,将各阶张量不变量的旋转不变特性作为约束准则,采用LM算法求解最优的校正参数,最终完成各阶磁梯度张量仪的校正。本校正方法还独立于各种磁梯度张量的测量原理,具有广泛的应用范围。

著录项

  • 公开/公告号CN111239667B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-07-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 吉林大学;

    申请/专利号CN202010181000.1

  • 申请日2020-03-16

  • 分类号G01R35/00(20060101);

  • 代理机构22201 长春吉大专利代理有限责任公司;

  • 代理人张岩;王立文

  • 地址 130012 吉林省长春市前进大街2699号

  • 入库时间 2022-08-23 12:13:10

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