首页> 中国专利> 同时获取高空间、高光谱分辨率光谱图像的光谱成像方法和系统

同时获取高空间、高光谱分辨率光谱图像的光谱成像方法和系统

摘要

为解决传统光谱成像体制中空间分辨率与光谱分辨率的相互制约而应用受限的技术问题,本发明提供了一种同时获取高空间、高光谱分辨率的光学成像方法和系统,采用多级级联的TDI探测器,实现了高空间分辨率成像;在多级级联的TDI探测器单元上镀制不同谱段的滤光膜或集成滤光片,实现谱段能量的多级累加,从而提高了单个谱段的光谱分辨率。

著录项

  • 公开/公告号CN110823374B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-07-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN201911049595.9

  • 申请日2019-10-31

  • 分类号G01J3/28(20060101);

  • 代理机构61211 西安智邦专利商标代理有限公司;

  • 代理人王凯敏

  • 地址 710119 陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号

  • 入库时间 2022-08-23 12:12:02

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号