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一种可分析O型圈线径对高压密封性能影响的测试装置

摘要

一种可分析O型圈线径对高压密封性能影响的测试装置,包括缸体,缸体的侧壁连通有进气管和出气管,承接盖、压紧垫、中心锥形盖、大锥形盖通过螺纹压盖安装于缸体顶部,环绕中心锥形盖的外壁开有位于不同高度的若干设置有小线径O型圈的条环形密封槽一,环绕大锥形盖的外壁开有位于不同高度的若干条设置有大线径O型圈的环形密封槽二。本发明利用中心锥形盖侧面凸起和大锥形盖的配合,以及大锥形盖和缸体的配合,分别实现小线径和大线径橡胶O型圈的线径控制。并通过外、内三角垫的交替使用,以及缸盖密封三角垫、环形垫组合密封结构,保证小线径和大线径O型圈测试过程中泄漏通道的唯一性,实现不同密封介质压力下泄漏率与O型圈线径关系的分析。

著录项

  • 公开/公告号CN112304595B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-07-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 清华大学;

    申请/专利号CN202011183546.7

  • 申请日2020-10-29

  • 分类号G01M13/005(20190101);G01M3/26(20060101);

  • 代理机构61215 西安智大知识产权代理事务所;

  • 代理人段俊涛

  • 地址 100084 北京市海淀区100084信箱82分箱清华大学专利办公室

  • 入库时间 2022-08-23 12:11:37

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