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三维集成光互连芯片中光耦合端面的制造方法

摘要

本发明提供的三维集成光互连芯片中光耦合端面的制造方法,包括如下步骤:提供一器件晶圆,所述器件晶圆包括具有器件结构的正面以及与所述正面相对的背面,且所述器件晶圆具有自所述正面向所述背面方向延伸的硅通孔;将所述正面与一载体晶圆键合;形成球形焊点于所述背面;自所述背面刻蚀所述器件晶圆,形成贯穿所述器件晶圆的光耦合端面。本发明在简化三维集成光互连芯片中光耦合端面的制造工艺的同时,改善了光耦合端面的质量,降低了三维集成光互连芯片的制造成本。

著录项

  • 公开/公告号CN110727046B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-07-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海新微技术研发中心有限公司;

    申请/专利号CN201810776259.3

  • 申请日2018-07-16

  • 分类号G02B6/12(20060101);

  • 代理机构31294 上海盈盛知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人孙佳胤;陈丽丽

  • 地址 201800 上海市嘉定区城北路235号3号楼

  • 入库时间 2022-08-23 12:10:51

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