一种基于侧抛式全光纤F-P结构的压力检测方法

摘要

本发明公开了一种基于侧抛式全光纤F‑P结构的压力检测方法，包括：利用化学腐蚀法腐蚀单模光纤一端，得到F‑P腔；使用侧面抛磨系统在F‑P腔两侧进行抛磨，得到侧抛式全光纤F‑P结构；将侧抛式全光纤F‑P结构与环形器、宽带光源、光谱分析仪组成压力测试系统；将侧抛式全光纤F‑P结构抛磨一端置于待测环境中，F‑P腔随外界压力变化产生轴向形变，根据压力、腔长、干涉光谱的变化关系，分析光谱分析仪采集的干涉光谱即可得到压力的大小。本发明压力检测方法采用化学腐蚀法制备的F‑P腔光滑且对比度、灵敏度高，并通过对F‑P腔侧面进行抛磨，使得腔体侧面变薄，对于气压更加敏感，能够用于临床医学检测气压，尤其是监测心脏稳定器对心脏吸附得压力。