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一种近常压电子产额模式X射线吸收谱装置及采集方法

摘要

本发明涉及一种近常压电子产额模式X射线吸收谱装置,包括:单色器、光强监测机构、光电子能谱装置和近常压气室,所述近常压气室内设置有用于放置待测样品的固定支撑结构,所述固定支撑结构连接有接地的第一电流检测装置;控制分析模块分别与单色器、光强监测机构、光电子能谱装置、第一电流检测装置和第二电流检测装置相连,用于控制单色器,并根据采集到的X射线单色入射光的光强度信号、第一出射光电子信号和第二出射光电子信号进行处理分析,并根据分析结果输出所需电子产额模式的X射线吸收谱图。本发明在不添加原位装置的情况下能探测接近真实情况的近常压条件下样品的状态。

著录项

  • 公开/公告号CN111781224B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-07-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN202010579140.4

  • 发明设计人 章辉;李小宝;汪威;刘志;

    申请日2020-06-23

  • 分类号G01N23/2273(20180101);G01N23/2204(20180101);

  • 代理机构31233 上海泰能知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人钱文斌;黄志达

  • 地址 200050 上海市长宁区长宁路865号

  • 入库时间 2022-08-23 12:05:48

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