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一种NOR闪存器件及其制备方法

摘要

本发明公开了一种NOR闪存器件及其制备方法,其中,NOR闪存器件,包括依次层叠的衬底、隧穿氧化层、浮栅层、介电层和控制栅层;至少一个贯穿控制栅层和介电层的浮栅过孔,浮栅过孔位于有源区,用于暴露出浮栅层,以引出浮栅电极;至少一个有源区阻挡结构,有源区阻挡结构设置于衬底和介电层之间,用于在对浮栅层的化学机械抛光工艺中,减少浮栅过孔暴露出的浮栅层的磨损。本发明的技术方案,通过增设有源区阻挡结构,可以有效的降低化学机械抛光工艺对其周围浮栅层的抛光速率,增加其周围浮栅层的厚度,可以避免由于浮栅层过薄而导致NOR闪存器件出现漏电或击穿的现象,提高了NOR闪存器件的可靠性。

著录项

  • 公开/公告号CN110335867B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-07-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN201810186542.0

  • 发明设计人 熊涛;刘钊;许毅胜;舒清明;

    申请日2018-03-07

  • 分类号H01L27/11517(20170101);H01L27/11521(20170101);

  • 代理机构11332 北京品源专利代理有限公司;

  • 代理人孟金喆

  • 地址 201203 上海市浦东新区张江高科技园区郭守敬路498号1幢502/15

  • 入库时间 2022-08-23 12:03:53

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