一种EDA验证阶段的寄存器测试方法

摘要

本发明公开了一种EDA验证阶段的寄存器测试方法，属于集成电路开发技术领域。其包括组建寄存器测试平台、编写寄存器测试程序以及寄存器测试等步骤。本发明测试过程中，寄存器测试程序减少了对测试场景的依赖性，可贯穿整个EDA验证阶段，并实现了最大化的随机测试，是对现有技术的一个重要改进。