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一种低介电、高强度多孔氮化硅陶瓷及其制备方法

摘要

本发明公开了一种通过微观结构调控制备低介电、高强度的多孔氮化硅陶瓷的制备工艺,包括如下步骤:凝胶的制备、坯体成型、坯体的干燥、坯体的排胶、坯体的烧结。本发明为了提高β‑Si3N4的转化率,在浆料中添加硼化锆促进α‑Si3N4向β‑Si3N4的转化,可以形成高长径比β‑Si3N4柱状晶相互搭接构成多孔氮化硅陶瓷的孔隙骨架,提高了其强度。本发明提供的多孔氮化硅陶瓷的制备工艺成本低,工艺简单,所制得的多孔氮化硅陶瓷孔隙率高、低介电常数且力学性能好。孔隙率在≥50%,介电常数3.3±0.1,抗弯性能在99.89~131.67MPa。最终多孔氮化硅陶瓷微观结构如附图。

著录项

  • 公开/公告号CN109369194B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-06-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 济南大学;

    申请/专利号CN201811331959.8

  • 申请日2018-11-09

  • 分类号H01B3/10(20060101);C04B35/584(20060101);C04B35/622(20060101);C04B35/63(20060101);C04B35/632(20060101);C04B38/00(20060101);C04B41/00(20060101);

  • 代理机构37218 济南泉城专利商标事务所;

  • 代理人李桂存

  • 地址 250022 山东省济南市市中区南辛庄西路336号

  • 入库时间 2022-08-23 11:58:13

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