公开/公告号CN107818563B
专利类型发明专利
公开/公告日2021-06-08
原文格式PDF
申请/专利权人 西安工程大学;
申请/专利号CN201711020861.6
申请日2017-10-26
分类号G06T7/00(20170101);G06T7/11(20170101);G06T7/136(20170101);G06T7/62(20170101);G06T7/80(20170101);G01C3/00(20060101);
代理机构61214 西安弘理专利事务所;
代理人王珂瑜
地址 710048 陕西省西安市金花南路19号
入库时间 2022-08-23 11:56:14
机译: 通过以两种不同的分辨率测量反向散射电子的密度来测量局部晶格间距的方法,一种用于检测测量面积,另一种用于测量晶格间距
机译: 一种测量系统,用于测量和存储数据确定的位置,该位置与所选连续区域上的材料厚度分布有关。在所选连续区域上测量待测对象材料中整体厚度分布的过程。用于在选定的连续区域上测量待测物体的材料中整体厚度分布的设备。声传感器,用于发送和接收用于测量材料厚度的声信号,以及用于在三维空间自动定位的系统声信号传播介质均匀
机译: 输电线路钢塔支撑点间距的测量方法