首页> 中国专利> 一种基于SOI CMOS的电子器件、制备方法以及剥离方法

一种基于SOI CMOS的电子器件、制备方法以及剥离方法

摘要

本发明提供一种基于SOI CMOS的电子器件、制备方法以及剥离方法,基于SOI CMOS的电子器件上设有多个剥离槽,所述剥离槽贯穿所述基于SOI CMOS的电子器件,不仅便于基于SOI CMOS的电子器件的制造,而且在减少弯折时的应力,防止基于SOI CMOS的电子器件损坏,通过开设剥离槽且将剥离槽贯通至埋氧化层,并对埋氧化层进行腐蚀处理,将埋氧化层腐蚀,进而使得基于SOI CMOS的电子器件脱离衬底基板,基于SOI CMOS的电子器件在支撑架的支撑下形成悬空结构,降低了制造工艺难度、减少制造成本,通过PDMS印章将电子器件剥离至目标基底。

著录项

  • 公开/公告号CN108962918B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-05-28

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN201810635417.3

  • 申请日2018-06-20

  • 分类号H01L27/12(20060101);H01L27/06(20060101);H01L21/84(20060101);H01L21/683(20060101);

  • 代理机构31219 上海光华专利事务所(普通合伙);

  • 代理人熊万里

  • 地址 400060 重庆市南岸区南坪花园路14号

  • 入库时间 2022-08-23 11:52:00

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号