一种基于X射线源的密度测井方法

摘要

本发明提供了一种基于X射线源的密度测井方法，包括测井仪器，测井仪器设置在井眼中，井眼的周围为地层，测井仪器在井眼中进行连续深度的测量，测井仪器包括NaI探测器，NaI探测器的下端连接有钨镍铁屏蔽体，钨镍铁屏蔽体的下端连接有X射线源。本方法通过X射线源连续向地层发射X射线，NaI探测器探测X射线谱，并选取一定范围的X射线计数，根据地层密度和X射线计数响应规律，计算地层密度。该基于X射线源的密度测井方法与现有的伽马源进行密度测井的方式相比，避免了辐射危害，提供了一种安全可控性密度测井方法，对地层密度测量更加精确。