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用于激光剥蚀电感耦合等离子体质谱分析的固体参考物质及定量分析方法

摘要

本发明公开用于激光剥蚀电感耦合等离子体质谱分析的固体参考物质及定量分析方法。采用待测金属元素为靶材,通过真空离子镀膜法在平整光滑的固体基材表面镀膜以形成待测元素均匀分布的固体参考物质镀膜。与现有激光剥蚀感耦合等离子体质谱分析的固体参考物质及定量分析方法相比,本发明不仅适合于任何基体样品中任何金属元素的检测,而且操作简单,耗时短,最终采用精准计算方法进行定值,数据准确度更高。

著录项

  • 公开/公告号CN111638262B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-05-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院上海硅酸盐研究所;

    申请/专利号CN202010411461.3

  • 申请日2020-05-15

  • 分类号G01N27/62(20210101);

  • 代理机构31261 上海瀚桥专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人郑优丽;牛彦存

  • 地址 200050 上海市长宁区定西路1295号

  • 入库时间 2022-08-23 11:49:54

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