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近阈值电压下高速缓存多位硬错误的检测及容错装置与方法

摘要

本发明涉及一种近阈值电压下高速缓存多位硬错误的检测及容错装置与方法,检测及容错装置包括Cache数据存储器、Cache标记存储器、BIST电路、ECC存储器、纠错编码器、纠错解码器、错误映射存储器、压缩映射存储器、空子块探测器、子块压缩器和子块解压器,依据所选用的Cache管理策略,使用单错校正双错检测(SECDED)的ECC纠错码和空子块数据压缩方法对Cache数据存储器中出现的多位硬错误进行检测与容错。本发明实现的微处理器,在微处理器中能够检测高速缓存存储器中由于工艺参数波动等原因导致的多位硬错误并进行容错,可以提高微处理器在使用近阈值电压技术的低功耗环境下的可靠性。

著录项

  • 公开/公告号CN108182125B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-05-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 武汉理工大学;

    申请/专利号CN201711446938.6

  • 发明设计人 刘伟;魏志刚;杜薇;

    申请日2017-12-27

  • 分类号G06F11/10(20060101);

  • 代理机构42222 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙);

  • 代理人鲁力

  • 地址 430070 湖北省武汉市洪山区珞狮路122号

  • 入库时间 2022-08-23 11:49:33

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