一种物体表面三维坐标测量系统以及测量方法

摘要

本发明公开了一种物体表面三维坐标测量系统以及测量方法，属于激光测距领域，其包括激光测距装置、二维位移平台以及处理器，测距装置包括光源、光隔离器、F‑P滤波器、光谱仪、第一、二耦合器、第一、二参考臂和测量臂，第一、二参考臂间具有固定的光程差，光隔离器设置在光源出射光方向上，光谱仪连接处理器，处理器用于对测量臂、第一参考臂和第二参考臂返回的激光之间的干涉信号进行分析处理，以获得待测物体在Z轴方向的深度，同时还用于结合二维位移平台反应的待测物体在XY平面坐标生成待测物体三维坐标。本发明还提供物体表面三维坐标测量方法。本发明方法和装置结构简单，价格低廉，还解决了死区问题，还能进行高精度和大幅面测量。