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测量应变下薄膜材料导热系数和热扩散系数的方法和装置

摘要

本发明公开了一种测量应变下薄膜材料导热系数和热扩散系数的方法和装置,样品通过张紧机构张紧,样品、张紧机构和驱动机构放入真空腔中,激光加热样品,通过红外摄像头获得样品在固定应变下从开始加热至达到稳态的全过程温度分布图,将薄膜视为二维传热,对实验图片进行处理,得到薄膜表面各像素点温度,将薄膜按照像素点的尺寸划分为若干个微元,建立稳态和瞬态的热平衡方程,求解出不同温度下薄膜的导热系数和热扩散系数,驱动机构驱动样品产生不同的应变,求出在不同应变下样品的导热系数和热扩散系数随温度变化的情况。本发明操作方便,测量准确性高,可以得到不同应变下样品的导热系数和热扩散系数随温度变化的情况。

著录项

  • 公开/公告号CN111060555B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-05-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 武汉大学;

    申请/专利号CN201911399938.4

  • 申请日2019-12-30

  • 分类号G01N25/20(20060101);G01N25/18(20060101);

  • 代理机构42102 湖北武汉永嘉专利代理有限公司;

  • 代理人程力

  • 地址 430072 湖北省武汉市武昌区八一路299号

  • 入库时间 2022-08-23 11:48:45

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