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一种通过掺杂铁降低结晶温度的氧化镓薄膜制备方法

摘要

本发明提出一种通过掺杂铁降低结晶温度的氧化镓薄膜制备方法,使用铁掺杂的氧化镓陶瓷靶材,通过激光分子束外延方法,在衬底温度为425~575℃的生长条件下,制备氧化镓薄膜。本发明还提出所述氧化镓薄膜制备方法制备得到的薄膜。本发明的有益效果在于:通过掺杂铁元素,解决了使用激光分子束外延技术在低温下制备的β‑Ga2O3薄膜不易结晶的问题。通过铁元素掺杂,可以有效提高氧化镓薄膜的绝缘性,以用作氧化镓基场效应晶体管中的栅层结构,提高与沟道层结构的晶格匹配度,减少位错及界面效应,提高器件的性能。本薄膜制备技术,操作步骤简单、成本低廉,靶材可重复性利用率高,制备的薄膜表面均匀、成膜致密、结晶性好。

著录项

  • 公开/公告号CN109411328B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-05-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京镓族科技有限公司;

    申请/专利号CN201811096587.5

  • 发明设计人 黄元琪;

    申请日2018-09-19

  • 分类号H01L21/02(20060101);C30B23/02(20060101);C30B29/16(20060101);

  • 代理机构11002 北京路浩知识产权代理有限公司;

  • 代理人王文君;王文红

  • 地址 101300 北京市顺义区仁和镇顺强路1号1幢2号

  • 入库时间 2022-08-23 11:46:47

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