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基于彩色三步移相技术的哈特曼光线追迹方法

摘要

本发明公开了一种基于彩色三步移相技术的哈特曼光线追迹方法,包括采用彩色三步移相法对影像进行计算并得到相位信息;本发明采用彩色三步移相法,结合三维非均匀介质场的反积分曲线三维重建算法,通过投影屏和远心光学系统的组合设置,实现了对非均匀介质场的测量光线的准确追迹及对三维空间折射率的瞬态折射特性测量,大大提高了测量精确度和效率;并且基于哈特曼光线追迹的非均匀介质场的测量系统整体设计精密,测量精度高,成本较低,应用范围广,具有重要的理论意义和工程应用价值,适合推广应用。

著录项

  • 公开/公告号CN109870424B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-05-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国计量大学;

    申请/专利号CN201910163686.9

  • 申请日2019-03-05

  • 分类号G01N21/41(20060101);

  • 代理机构11429 北京中济纬天专利代理有限公司;

  • 代理人杨乐

  • 地址 310018 浙江省杭州市下沙高教园区学源街258号

  • 入库时间 2022-08-23 11:46:38

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