公开/公告号CN109541733B
专利类型发明专利
公开/公告日2021-05-07
原文格式PDF
申请/专利权人 中国石油大学(华东);
申请/专利号CN201811184737.8
申请日2018-10-11
分类号G02B5/00(20060101);G03F7/20(20060101);
代理机构11491 北京国坤专利代理事务所(普通合伙);
代理人黄耀钧
地址 266580 山东省东营市东营区北一路739号
入库时间 2022-08-23 11:45:28
机译: 一种用于技术设备的纳米级校准刻度的制备方法,可用于结构的高分辨率到超高分辨率成像
机译: 一种用于技术设备的纳米级校准刻度的制备方法,可用于结构的高分辨率到超高分辨率成像
机译: 一种用于技术设备的纳米级标尺的生产和校准的方法,用于结构的高分辨率或超高分辨率成像