(3)构建PSO‑KELM网络模型;(4)采用PSO‑KELM网络模型将实际局部放电的光学指纹与所述光学定位仿真指纹库中的光学指纹进行匹配,以确定GIL上的实际局部放电源的位置。此外,本发明还公开了一种基于局部放电光学信号的GIL局部放电源定位系统。"/> 基于局部放电光学信号的GIL局部放电源定位方法和系统(CN202010837938.4)-中国专利【掌桥科研】
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基于局部放电光学信号的GIL局部放电源定位方法和系统

摘要

本发明公开了一种基于局部放电光学信号的GIL局部放电源定位方法:(1)建立光学定位仿真指纹库:建立与实际GIL尺寸完全相同的仿真模型,并对所述仿真模型的局部放电源进行光学信号仿真,以构建局部放电源的光学定位仿真指纹库;(2)采用光学传感器采集实际GIL发生局部放电时发出的光信号,以得到实际局部放电源所对应的实际局部放电的光学指纹(3)构建PSO‑KELM网络模型;(4)采用PSO‑KELM网络模型将实际局部放电的光学指纹与所述光学定位仿真指纹库中的光学指纹进行匹配,以确定GIL上的实际局部放电源的位置。此外,本发明还公开了一种基于局部放电光学信号的GIL局部放电源定位系统。

著录项

  • 公开/公告号CN111929549B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-05-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海交通大学;

    申请/专利号CN202010837938.4

  • 申请日2020-08-19

  • 分类号G01R31/12(20060101);G06F30/27(20200101);G06N20/00(20190101);

  • 代理机构31228 上海东信专利商标事务所(普通合伙);

  • 代理人杨丹莉;李丹

  • 地址 200240 上海市闵行区东川路800号

  • 入库时间 2022-08-23 11:44:55

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