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光栅集成精度的测量装置及方法、平面光栅尺测量系统

摘要

本发明公开了光栅集成精度的测量装置及方法、平面光栅尺测量系统,测量装置包括光束发生及接收单元、光束调整单元和集成光栅;光束调整单元包括平行分光镜和反射分光棱镜;反射分光棱镜包括透反平面和反射平面;集成光栅包括参考光栅和待测光栅;光束发生及接收单元发出光束并确定参考光栅和待测光栅的俯仰角、偏转角和旋转角;平行分光镜将光束分成两束平行光束;透反平面和反射平面将两束平行光束反射至参考光栅和待测光栅并将零级反射光束和一级衍射光束反射至平行分光镜。本发明可以提供相距较远的两束平行光,实现大间距光栅集成精度测量;还可在一套测量装置中,同时检测参考光栅和待测光栅的俯仰角、偏转角和旋转角。

著录项

  • 公开/公告号CN110686620B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-05-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海微电子装备(集团)股份有限公司;

    申请/专利号CN201810739177.1

  • 发明设计人 吴萍;

    申请日2018-07-06

  • 分类号G01B11/26(20060101);

  • 代理机构11332 北京品源专利代理有限公司;

  • 代理人孟金喆

  • 地址 201203 上海市浦东新区自由贸易试验区张东路1525号

  • 入库时间 2022-08-23 11:43:52

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