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用于测量孔内壁几何形状的装置和对应的方法

摘要

本发明涉及用于测量孔、钻孔和通道的内壁几何形状的装置,这些孔、钻孔和通道可选地是沉头的且特别是用于工件的螺纹、销和铆钉连接,所述装置包括至少一个光学传感器,该光学传感器朝向内壁测量,并且能够被引入钻孔中以及通过进给/转动单元转动,其中,辅助件设置有通道且搁置在工件的表面上,所述传感器通过该通道进入沉头部和/或孔中。该装置的特征在于,辅助件的内壁设置有结构,且传感器在穿过辅助件时扫描所述结构。本发明还涉及对应的方法。

著录项

  • 公开/公告号CN109313020B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-04-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 微-埃普西龙测量技术有限两合公司;

    申请/专利号CN201680086023.6

  • 申请日2016-09-14

  • 分类号G01B21/14(20060101);G01B21/20(20060101);G01B11/12(20060101);G01B11/24(20060101);G01N21/954(20060101);

  • 代理机构31100 上海专利商标事务所有限公司;

  • 代理人江漪

  • 地址 德国奥滕伯格

  • 入库时间 2022-08-23 11:43:10

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