退出
我的积分:
中文文献批量获取
外文文献批量获取
机译:孔几何形状的测量方法和孔几何形状的测量工具
公开/公告号PL383404A1
专利类型
公开/公告日2009-03-30
原文格式PDF
申请/专利权人 POLITECHNIKA WARSZAWSKA;
申请/专利号PL20070383404
发明设计人 ORZECHOWSKI JAN;ORZECHOWSKI PIOTR;JABLSTROK;ONACUTE;SKI RYSZARD;
申请日2007-09-20
分类号G01B11/00;G01B11/08;G01B11/12;G01B11/24;
国家 PL
入库时间 2022-08-21 19:25:51
机译: 进行挠性测量,在探孔内进行距离测量的过程以及对探孔几何进行完美测量的过程
机译: 接收设备的通孔测量的三维位置测量以及三维位置测量装置的接收孔和测量方法以及通孔的三维位置测量,三维位置测量的三维位置测量设备孔的方法和多个通孔以及多个通孔的方式
机译: 几何测量系统,几何测量设备和几何测量方法