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三维几何形状测量装置和三维几何形状测量方法

摘要

一种三维几何形状测量装置100,包括:虚拟坐标识别部402,其通过将参考仪器上的特征点虚拟投影到拍摄器件的像面上来识别与像面中的特征点相对应的虚拟拍摄像素的坐标;校正部403,其生成用于校正测量目标拍摄图像中包括的测量目标拍摄像素的坐标的校正信息;以及几何形状识别部405,其基于几何特性信息和校正信息,来校正通过用拍摄器件拍摄测量对象而生成的测量目标拍摄图像中包括的多个测量目标拍摄像素的坐标,并且基于基于测量目标拍摄像素的坐标而计算的测量三维坐标来识别测量对象的几何形状。

著录项

  • 公开/公告号CN113155053A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-07-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 株式会社三丰;

    申请/专利号CN202110056495.X

  • 发明设计人 宫田薫;

    申请日2021-01-15

  • 分类号G01B11/24(20060101);

  • 代理机构11444 北京汇思诚业知识产权代理有限公司;

  • 代理人张莉;王刚

  • 地址 日本国神奈川县川崎市高津区坂户1-20-1

  • 入库时间 2023-06-19 11:59:12

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-12-16

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B11/24 专利申请号:202110056495X 申请日:20210115

    实质审查的生效

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