一种自旋晶格弛豫时间测定方法及装置

摘要

本发明公开了一种自旋晶格弛豫时间测定方法及装置，包括：基于预设脉冲序列对待测样品进行测定，获得伪二维谱图的原始数据；对傅里叶变换后的伪二维谱图进行相位和基线校正，获得校正后的二维谱图；在校正后的伪二维谱图中，对待测样品中的各基团的¹³C谱峰进行积分，获得不同延迟时间所对应的谱峰的积分面积，对不同延迟时间所对应的谱峰的积分面积随延迟时间变化的数据进行拟合，获得待测样品的自旋晶格弛豫时间。该预设脉冲序列包括实现对待测样品中分子局部运动性较强的部分或不含¹H部分的测定，和实现对待测样品中含氢的分子局部运动性较弱的刚性部分的测定，因此基于一次测量实现对共混体系中各基团的¹³C的自旋晶格弛豫时间测定。