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一种单一晶体取向的NiO薄膜的可控制备方法

摘要

本发明供了一种单一晶体取向的NiO薄膜的可控制备方法,涉及半导体光电子材料制备技术领域,能够实现对NiO薄膜晶体取向的控制,制备出单一晶体取向的NiO薄膜;该方法采用磁控溅射的方法制备NiO薄膜,其特征在于,在溅射过程中调节溅射气氛、溅射功率、气氛压强、气体流量、基底温度和/或退火温度来实现单一晶体取向的NiO薄膜的制备。本发明供的技术方案适用于单一晶体取向的NiO薄膜的制备过程中。

著录项

  • 公开/公告号CN109371376B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-04-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京科技大学;

    申请/专利号CN201811474163.8

  • 发明设计人 张跃;时明月;康卓;司浩楠;

    申请日2018-12-04

  • 分类号C23C14/35(20060101);C23C14/08(20060101);C23C14/58(20060101);

  • 代理机构11401 北京金智普华知识产权代理有限公司;

  • 代理人皋吉甫

  • 地址 100083 北京市海淀区学院路30号

  • 入库时间 2022-08-23 11:40:06

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