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公开/公告号CN110146154B
专利类型发明专利
公开/公告日2021-04-16
原文格式PDF
申请/专利权人 中国计量大学;
申请/专利号CN201910367953.4
发明设计人 王道档;顾翰婷;孔明;许新科;赵军;刘维;郭天太;
申请日2019-05-05
分类号G01H9/00(20060101);
代理机构33109 杭州杭诚专利事务所有限公司;
代理人尉伟敏
地址 310018 浙江省杭州市下沙高教园区学源街258号
入库时间 2022-08-23 11:39:31
机译: 点衍射干涉仪测量装置和点衍射干涉仪测量方法
机译: 点衍射类型的干涉测量方法,点衍射类型的干涉测量设备以及使用该方法生产的高精度投影透镜
机译: 用于确定借助于衍射光学元件产生的波前的方法,用于制造衍射光学元件的方法和用于测试物体表面的干涉形状测量的测量装置
机译:光学傅里叶处理器和点衍射干涉仪用于运动物体轨迹估计
机译:点振动测量用于检测浅埋物体
机译:测试热保护和振动测量的:用于测量中子电荷晶体衍射测试装置
机译:用热电偶工艺制造的点衍射干涉仪板测量相物体的温度
机译:一种抑制散射辐射能量(衍射)的干涉方法。
机译:用于光学测试的合成相移:点衍射干涉测量法没有零光学器件或相移器
机译:用于运动物体轨迹估计的光学傅立叶处理器和点衍射干涉仪
机译:一种使用液晶的相位阶跃点衍射干涉仪