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一种考虑应力下的纳米晶高频磁特性检测装置及测量方法

摘要

本发明公开了一种考虑应力下的纳米晶高频旋转磁特性检测系统,包括考虑应力下的纳米晶高频旋转磁特性检测装置、功率放大器、差分放大电路以及数字信号处理单元;所述纳米晶高频旋转磁特性检测装置,包括磁路为由两个U型的磁芯交错90°对插组成,磁芯由纳米晶带材绕指切割而成、四个方型激磁绕组固定在磁芯顶端,下部磁芯通过卡扣固定在支架上,待测样品放在两个磁芯中间,对称放置、在样品两边分别施加液压夹具,对样品施加应力、上部磁芯通高度可调节卡扣固定在支架上,通过调节磁芯高度以适应不同尺寸样品。相对于现有技术,该系统结构单一,磁路清晰合理,磁芯制作加工简单。

著录项

  • 公开/公告号CN108802638B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-04-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 河北工业大学;

    申请/专利号CN201710282639.7

  • 发明设计人 李永建;李昂轩;张长庚;王利祥;

    申请日2017-04-26

  • 分类号G01R33/12(20060101);G01R33/06(20060101);G01R33/04(20060101);G01R33/00(20060101);

  • 代理机构12221 天津展誉专利代理有限公司;

  • 代理人任海波

  • 地址 300000 天津市红桥区光荣道8号

  • 入库时间 2022-08-23 11:39:12

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