基于特征点及其结构关系的电路板残片图像识别方法

摘要

本公开涉及基于特征点及其结构关系的电路板残片图像识别方法，其中在样本库中保存有样本图像及其特征点和特征描述，该方法包括步骤：1、提取残片图像的特征点；2、计算特征点的SIFT描述；3、分别计算每个特征点的SIFT描述与每个样本图像的每个特征点的SIFT描述的第一欧式距离；4、对第一欧式距离由小到大排序，选择特征点集中第一欧式距离排序靠前的多个特征点，作为的该特征点的候选匹配点；5、计算候选匹配点与该特征点的形状上下文描述之间的第二欧氏距离，保留第二欧式距离不大于预定阈值的候选匹配点，作为该特征点的匹配点集；6、在样本图像中寻找与残片图像的第一星型结构匹配的第二星型结构；7、根据星型结构之间的相似性，获得样本图像与残片图像的匹配度。