公开/公告号CN112414945B
专利类型发明专利
公开/公告日2021-04-06
原文格式PDF
申请/专利权人 深圳宜美智科技股份有限公司;
申请/专利号CN202110094946.9
发明设计人 陈胜鹏;
申请日2021-01-25
分类号G01N21/01(20060101);G01N21/954(20060101);
代理机构44526 深圳市宏德雨知识产权代理事务所(普通合伙);
代理人李捷
地址 518000 广东省深圳市宝安区松岗街道潭头社区潭头树边坑路与松岗大道交汇处2号厂房201及第2、3、4层
入库时间 2022-08-23 11:37:46
机译: 缺陷检测方法,缺陷检测方法,缺陷检测设备,缺陷检测设备,缺陷检测程序和用于记录程序的记录介质
机译: 缺陷信息检测灵敏度数据确定方法,缺陷信息检测灵敏度数据确定设备,缺陷检测设备管理方法,半导体器件缺陷检测方法和半导体器件缺陷检测设备
机译: 线和多路分配器的缺陷的检测方法,缺陷的检测设备以及包括缺陷的检测设备的显示面板