首页> 中国专利> 一种拉伸试样标距测划装置及方法

一种拉伸试样标距测划装置及方法

摘要

本发明涉及一种拉伸试样标距测划装置及方法,所述装置包括基准架、左固定架、右固定架、纵向定位架、横向定位块及长螺栓;基准架设基准定位杆和第一滑槽;左固定架可沿第一滑槽滑动,其上设第二滑槽;右固定架可沿第二滑槽滑动,其上设第三滑槽;纵向定位架可沿第三滑槽滑动;各滑槽的开口方向相同且滑动方向一致;左、右固定架和纵向定位架分别设左定位杆、右定位杆和纵向定位杆;左定位杆、右定位杆上设横向定位块,同一定位杆上的横向定位块通过长螺栓串连后锁紧固定。本发明克服了传统测划方法准确性低、稳定性差的缺点,能够实现多个拉伸试样初始标距同时刻划,刻划一致性较好、效率高,尤其适应于实验室中非标拉伸试样断后延伸率的测算。

著录项

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号