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一种非均匀等离子体电子密度的诊断系统及方法

摘要

本发明提供了一种非均匀等离子体电子密度的诊断系统,包含:等离子体发生器,设置在定标体前方;超宽带天线,包含接收天线和发射天线,设置在等离子发生器同侧;时域窄脉冲源,连接发射天线;高速采样数字示波器,连接发射天线以及接收天线并对发射天线的发射信号以及接收天线的接收信号进行记录和处理;程控电源系统,分别连接时域窄脉冲源、高速采样数字示波器以及等离子体发生器,用于触发时域窄脉冲源,控制等离子体发生器的放电功率,记录等离子体不同放电功率状态,以得到不同放电状态下的等离子体基本参数。其优点是:可以模拟更为精确的超高声速目标表面等离子体鞘套的环境,而且测试效率高,测试成本低。

著录项

  • 公开/公告号CN109640501B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-04-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海无线电设备研究所;

    申请/专利号CN201811384281.X

  • 申请日2018-11-20

  • 分类号H05H1/00(20060101);

  • 代理机构31323 上海元好知识产权代理有限公司;

  • 代理人张妍;刘琰

  • 地址 200233 上海市闵行区中春路1555号

  • 入库时间 2022-08-23 11:37:31

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