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公开/公告号CN107275206B
专利类型发明专利
公开/公告日2021-03-26
原文格式PDF
申请/专利权人 乔治洛德方法研究和开发液化空气有限公司;
申请/专利号CN201710540813.3
发明设计人 C·安德森;R·古普塔;V·M·奥马尔吉;N·斯塔福德;C·杜萨拉;
申请日2013-10-30
分类号H01L21/311(20060101);
代理机构11247 北京市中咨律师事务所;
代理人张蓉珺;林柏楠
地址 法国巴黎
入库时间 2022-08-23 11:37:14
机译: 用于高纵横比氧化物蚀刻的氟碳分子
机译: 用于高纵横比蚀刻的氟碳分子
机译:用于高纵横比蚀刻熔融二氧化硅,硼硅酸盐和铝硅酸盐玻璃基板的高纵横比蚀刻的电感耦合等离子体反应离子蚀刻工艺
机译:在氧化物和聚合物中蚀刻亚微米高纵横比的孔
机译:通过电偏流金属辅助化学蚀刻(EMaCE)对单晶硅和多晶硅进行高速,高纵横比,高均匀性和3D复杂性的深度蚀刻
机译:氟碳活性物种对蚀刻高纵横比处理的影响评价
机译:具有表面电荷的高纵横比结构的湿法蚀刻COMSOL多发性模拟
机译:一种用于高纵横比植入MEMS结构的晶片刻度蚀刻技术
机译:聚四氟乙烯的热辅助离子束蚀刻,这是一种用于mEms的高纵横比蚀刻的新技术
机译:深度高纵横比si蚀刻,适用于先进的封装技术