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基于存储控制FPGA的FLASH坏块仿真验证系统

摘要

本发明提供了一种基于存储控制FPGA的FLASH坏块仿真验证系统,包括:仿EEPROM模块、仿模拟量遥测接收模块、仿串口遥测接收模块、仿存储板模块、仿时钟、复位、块保护模块、仿辅控板模块、仿遥控指令发送模块。本发明适用于卫星产品中存储控制FPGA的地面仿真验证。本发明可通过更改仿真系统的代码模拟存储板(基于FLASH)在任意位置产生坏块,可验证存储控制FPGA在各种工况下工作的正确性。同时本发明还可记录坏块表工作流程,可仿真向存储控制FPGA输入各种遥控指令,接收并存储遥测信息,为存储控制FPGA提供闭环的仿真环境。本发明可拓展应用于多种型号卫星产品的存储控制FPGA地面仿真验证。

著录项

  • 公开/公告号CN107944128B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-03-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海航天测控通信研究所;

    申请/专利号CN201711167449.7

  • 申请日2017-11-21

  • 分类号G06F30/331(20200101);G06F30/34(20200101);

  • 代理机构31236 上海汉声知识产权代理有限公司;

  • 代理人胡晶

  • 地址 201109 上海市闵行区中春路1777号

  • 入库时间 2022-08-23 11:36:07

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