一种基于表计主动自校的校表方法

摘要

本发明公开一种基于表计主动自校的校表方法，采用一被检表一校验装置的模式，被检表根据其内部存储的校表方案和参数主动校表，结合误差数据和被检表内置的误差上下限自主判断校验是否合格，并将校验数据及判断结果上传至管理系统。本发明被检表由原先的被动校表变为主动控制校验装置自主校表，减少了不同协议的表计校表上位机软件的开发和维护，同时校验设备由主动变为被动，简化了校验设备。