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一种块状岩石样品不同矿物粒度分布特征的测量方法

摘要

本发明公开了一种块状岩石样品不同矿物粒度分布特征的测量方法,其步骤为:对样品表面进行扫描,扫描后可以得到背散射图像,根据样品背散射图像的灰度值对块状岩石样品表面的矿物颗粒分矿物A和矿物B两部分分别进行测量。在分别测量结束后,将所得的测试结果进行统计整合,获得整块岩石的不同矿物粒度频率分布、累积频率分布和累积通过频率三个表征粒度特征的参数数据。本方法解决了矿物参数自动分析系统无法对块状岩石矿物粒度特征参数进行测量分析的难题,使得块状岩石样品矿物粒度特征的参数数据测量的整个过程简单快速,安全经济。有效提高了矿物赋存粒度特征的检测效率,具有测试结果准确性与数据反馈及时性的特点。

著录项

  • 公开/公告号CN111272617B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-01-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN202010160600.X

  • 发明设计人 张彩霞;张耀南;王肖波;

    申请日2020-03-10

  • 分类号G01N15/02(20060101);

  • 代理机构62002 兰州中科华西专利代理有限公司;

  • 代理人马正良

  • 地址 730000 甘肃省兰州市城关区东岗西路318号

  • 入库时间 2022-08-23 11:30:24

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