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基于光谱曲线拟合的高光谱图像特征检测方法及装置

摘要

本发明适用于特征点检测技术领域,提供了一种基于光谱曲线拟合的高光谱图像特征检测方法及装置,包括:在光谱方向上对高光谱图像f(x,y,λ)进行拟合,得到新的高光谱图像φ(x,y,λ′);构造关于新的该高光谱图像φ(x,y,λ′)中的某点p0和其邻域上的点p1的加权相关性函数;根据该加权相关性函数构造一个特征点响应函数;根据该特征点响应函数计算该高光谱图像φ(x,y,λ′)中的某点p0的特征点响应值和其邻域上所有点的特征点响应值;若该高光谱图像φ(x,y,λ′)中的某点p0的特征点响应值大于其邻域上所有点的特征点响应值,则该点p0即为该高光谱图像φ(x,y,λ′)的特征点;本发明提供的方法可以在光谱方向上通过拟合的方法对整个高光谱图像进行数据压缩和降噪,提高了运行效率,并在此基础上实现了对高光谱图像进行特征点检测的目的。

著录项

  • 公开/公告号CN108009550B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-01-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 深圳大学;

    申请/专利号CN201711097228.7

  • 发明设计人 李岩山;徐健杰;石伟;

    申请日2017-11-09

  • 分类号G06K9/46(20060101);

  • 代理机构44312 深圳市恒申知识产权事务所(普通合伙);

  • 代理人王利彬

  • 地址 518060 广东省深圳市南山区南海大道3688号

  • 入库时间 2022-08-23 11:29:42

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