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一种温度对空间介质材料电导率影响的测试方法

摘要

本发明公开了一种温度对空间介质材料电导率影响的测试方法,将两个完全相同的测试样品置于温控试验台上,一个样品用于电导率测试,另一个样品用于温度测试,从而实现温度对空间介质材料电导率影响的测试。本发明提出采用两个完全相同的试验样品置于温控试验台,使其处于相同温度状态,一个样品用于电导率测试,另一个样品用于温度测试,解决了介质材料电导率和温度测试信号相互干扰问题,从而为不同温度下介质材料电导率测试提供一条更为方便、易实现的试验方法。

著录项

  • 公开/公告号CN109188086B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-01-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 许昌学院;

    申请/专利号CN201811090707.0

  • 发明设计人 陈益峰;王金晓;高远浩;

    申请日2018-09-19

  • 分类号G01R27/02(20060101);

  • 代理机构11556 北京恒创益佳知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人付金豹

  • 地址 461000 河南省许昌市魏都区八一路88号

  • 入库时间 2022-08-23 11:29:10

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