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一种提高光电跟踪系统中脱靶量延时测量精度的方法

摘要

本发明提出一种提高光电跟踪系统中脱靶量延时测量精度的方法,解决了现有运动相移法要求跟踪机构正弦运动周期大于延时时长的限制,同时提高了脱靶量延时的测量精度。该方法首先将模拟目标置于光电跟踪系统的视场中,调节其位置使光电跟踪系统的相机能清晰成像;然后分别控制光电跟踪系统带动其光学镜头及相机做大幅值低频率和小幅值高频率的正弦运动,采用运动相移法测量这两种参数条件下的脱靶量延时,相应分别记为Tc和Ts,综合得到高精度延时为:Tf+Ts×MOD(Tc,Ts),其中MOD(Tc,Ts)表示Tc/Ts的模值。本发明利用系统自身配置,无需增加额外软硬件,能显著提高延时测量精度,简单易行,可实施性强。

著录项

  • 公开/公告号CN108871374B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-01-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN201810253349.4

  • 申请日2018-03-26

  • 分类号G01C25/00(20060101);G01M11/00(20060101);

  • 代理机构61211 西安智邦专利商标代理有限公司;

  • 代理人胡乐

  • 地址 710119 陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号

  • 入库时间 2022-08-23 11:29:06

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