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一种MoTe2-xOx/MoTe2异质结忆阻器及其制备方法

摘要

本发明公开了一种MoTe2‑xOx/MoTe2异质结忆阻器及其制备方法,属于半导体器件领域。包括水平忆阻器和垂直忆阻器:水平忆阻器是在基底上表面有MoTe2膜,MoTe2薄膜表面有至少一对金属电极,其中未被金属电极覆盖的MoTe2膜表面部分氧化成MoTe2‑xOx,形成MoTe2‑xOx/MoTe2异质结,或者MoTe2‑xOx层位于MoTe2层表面构成异质结,金属电极位于异质结上表面;垂直忆阻器是一种“三明治”结构,在底部的导电电极层上有MoTe2薄膜,MoTe2薄膜表面部分氧化成MoTe2‑xOx,形成MoTe2‑xOx/MoTe2异质结,金属电极位于MoTe2‑xOx/MoTe2异质结上表面;所述x的取值范围为02‑xOx/MoTe2异质结的忆阻器,表现出良好的“8”字形的忆阻性能,至少可以稳定循环3000圈。

著录项

  • 公开/公告号CN110416408B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-01-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 华中科技大学;

    申请/专利号CN201910598482.8

  • 发明设计人 常海欣;孙磊杰;

    申请日2019-07-04

  • 分类号H01L45/00(20060101);H01L27/24(20060101);

  • 代理机构42201 华中科技大学专利中心;

  • 代理人孙杨柳;曹葆青

  • 地址 430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号

  • 入库时间 2022-08-23 11:28:04

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