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一种材料介电张量测量方法

摘要

本发明属于材料基础物理特性研究领域,并具体公开了一种材料介电张量测量方法,其首先由预设待测材料介电张量初始值ε(E)确定偏转换矩阵Tp和透射矩阵Tt,进而由偏转换矩阵Tp、透射矩阵Tt和入射矩阵Ti得到待测材料表面电磁波的传输矩阵;然后由该传输矩阵Tm确定待测材料理论穆勒矩阵谱MMCal(E),将该理论穆勒矩阵谱MMCal(E)与待测材料测量穆勒矩阵谱MMExp(E)进行拟合分析,从而得到待测材料的介电张量。该介电张量计算方法基于一般性理论,操作流程清晰明了,获取结果全面可靠,适用于求解各类材料的介电张量。

著录项

  • 公开/公告号CN110596011B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-12-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 华中科技大学;

    申请/专利号CN201910792395.6

  • 申请日2019-08-26

  • 分类号G01N21/21(20060101);G06F17/10(20060101);

  • 代理机构42201 华中科技大学专利中心;

  • 代理人李智;张彩锦

  • 地址 430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号

  • 入库时间 2022-08-23 11:27:14

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